Jordi Arbiol

Físico especializado en microscopia electrónica

Profesor de Investigación ICREA en el Instituto Catalán de Nanociencia y Nanotecnología (ICN2). Licenciado en Física por la Universidad de Barcelona (UB), se doctoró en microscopía electrónica de transmisión aplicada a materiales nanoestructurados en esta misma universidad en 2001, con lo que obtuvo la etiqueta de Doctor Europeo en reconocimiento a la dimensión europea del proyecto, así como el premio extraordinario de doctorado de la universidad. Posteriormente, ocupó el puesto de profesor adjunto en la UB, antes de convertirse en jefe de grupo en el Instituto de Ciencia de Materiales de Barcelona (ICMAB-CSIC) en 2009, así como en supervisor científico de la instalación de microscopía electrónica de dicho centro. Fue aquí donde comenzó su misión personal y profesional para mejorar la infraestructura de microscopía electrónica de referencia de Barcelona, un esfuerzo que ha continuado en el ICN2, al que se unió en 2015 como líder del Grupo de Nanoscopía Electrónica Avanzada.

En 2017, se convirtió en el presidente de la Sociedad Española de Microscopía (SME), tras haber sido su vicepresidente de 2013 a 2017 y miembro de la junta directiva desde 2009. En 2019, se convirtió en miembro de la Junta Ejecutiva de la Federación Internacional de Sociedades de Microscopía (IFSM). También fue nombrado por el Barcelona Institute of Science and Technology (BIST) como supervisor científico de su área estratégica multidisciplinar de Microscopía Electrónica.

Otros reconocimientos incluyen el premio EU40 Materials Prize de 2014, el premio EMS Outstanding Paper Award de 2014 y la inclusión en la lista Top 40 under 40 Power List (2014) de The Analytical Scientist. Actualmente tiene más de 360 publicaciones revisadas por pares.